產(chǎn)品中心
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HIOKI C測試儀 3506-10 對應1MHz測試, 低容量,高精度,高速測試 模擬測量時間0.6ms(1MHz)的高速測量 提高了抗干擾性高質量發展,在產(chǎn)線的上也能實現(xiàn)高反復精度 1kHz深刻認識、1MHz測量下,低電容的貼片時可穩(wěn)定測量 根據(jù)BIN的測定區(qū)分容量
HIOKI U8793 任意波形發(fā)生單元2ch任意波形信號輸出管理;可最大15V輸出用存儲記錄儀測量到的異常波形信號;可最大15V輸出自定義的任意的波形信號自行開發;和存儲記錄儀組合使用
HIOKI MR8791 脈沖發(fā)生單元可8ch輸出的脈沖波形信號模樣;和存儲記錄儀系列組合使用;各通道和外殼之間絕緣
HIOKI MR8790 波形發(fā)生單元4chDC處理方法,和最大20kHz的正弦波信號輸出數據顯示;信號輸出±10V, 5mA;和存儲記錄儀系列組合使用服務;各通道之間實現,以及通道和外殼之間絕緣